k***g
发帖数: 4904 | 1 老板让我用化学方法修饰一个含有小坑的表面，小坑深度约1 um，我的修饰层理论厚度
1 nm，不过因为前导活化过程可能会引起表面发生超过1nm厚度的变化（我估计可能5
nm左右），老板让我盯住一个坑，对比修饰前和修饰后的变化，他跟我说他希望看到到
底变化了几nm。我怀疑普通的AFM方法能否提供这么高的重复性，以至于能track到1 um
深的坑发生几 nm的深度变化（不是在坑底看到几nm的起伏，是分辨1000nm数量级的数
字几nm的变化）。有经验的能给我指教一下不？理论上能实现这个目标么？怎么能尽量
达到这个目标？非常感谢！ |
k***g
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n********t
发帖数: 117 | 3 用的tip的radius小的话 分辨率可以很高，比如用CNT做的tip 边缘分辨率都可以比较
高的
坑就只有坑里面高度有变化 还是整个表面（坑里坑外）都是在变化的？
另外，坑的直径有多大 |
C********5
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k***g
发帖数: 4904 | 5 老板让我用化学方法修饰一个含有小坑的表面，小坑深度约1 um，我的修饰层理论厚度
1 nm，不过因为前导活化过程可能会引起表面发生超过1nm厚度的变化（我估计可能5
nm左右），老板让我盯住一个坑，对比修饰前和修饰后的变化，他跟我说他希望看到到
底变化了几nm。我怀疑普通的AFM方法能否提供这么高的重复性，以至于能track到1 um
深的坑发生几 nm的深度变化（不是在坑底看到几nm的起伏，是分辨1000nm数量级的数
字几nm的变化）。有经验的能给我指教一下不？理论上能实现这个目标么？怎么能尽量
达到这个目标？非常感谢！ |
k***g
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n********t
发帖数: 117 | 7 用的tip的radius小的话 分辨率可以很高，比如用CNT做的tip 边缘分辨率都可以比较
高的
坑就只有坑里面高度有变化 还是整个表面（坑里坑外）都是在变化的？
另外，坑的直径有多大 |
C********5
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b****y
发帖数: 44 | 9 你的这个坑的roughness大概多少阿,坑的直径呢？
你的这个1nm的厚度变化是在整个坑表面均匀的么?不是均匀的，可以减少你的扫描范围
，尽控制得比较小。看看能不能看到表面的一下morphology变化，随着时间。你可以大
概测试以下你的AFM的drift是多少？有些AFM软件可以补偿Drift。
你这个表面变化以后，有没有一些机械特性变化啊？可以看看能不能用Force -
distance曲线看看可能性。
um
【在 k***g 的大作中提到】
: 老板让我用化学方法修饰一个含有小坑的表面，小坑深度约1 um，我的修饰层理论厚度
: 1 nm，不过因为前导活化过程可能会引起表面发生超过1nm厚度的变化（我估计可能5
: nm左右），老板让我盯住一个坑，对比修饰前和修饰后的变化，他跟我说他希望看到到
: 底变化了几nm。我怀疑普通的AFM方法能否提供这么高的重复性，以至于能track到1 um
: 深的坑发生几 nm的深度变化（不是在坑底看到几nm的起伏，是分辨1000nm数量级的数
: 字几nm的变化）。有经验的能给我指教一下不？理论上能实现这个目标么？怎么能尽量
: 达到这个目标？非常感谢！
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c***r
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b*******h
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