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s*****6
发帖数: 2379
1
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Keywords: Nano-scaled defect; conductive-AFM; Damascene process; Direct
observation; Cr Thin film
需要者发背景 (姓名,Title, 专业,研究背景,联系方式) 到站内信箱。谢谢!
S********0
发帖数: 67
2
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【在 s*****6 的大作中提到】
: Journal: Microelectronic Engineering
: Keywords: Nano-scaled defect; conductive-AFM; Damascene process; Direct
: observation; Cr Thin film
: 需要者发背景 (姓名,Title, 专业,研究背景,联系方式) 到站内信箱。谢谢!

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